【学术报告】纳米材料的检测标准研究
2018-10-26 09:00:00

葛广路研究员

国家纳米科学中心

摘要：分析检测标准保证纳米材料测试数据的可靠一致，是纳米制造产业的重要支撑。ISO/TC229、IEC/TC113、ASTM/E56等国际标准组织的纳米技术委员会积极开展检测标准制定，针对碳纳米管、量子点、金属纳米粒子、纤维素等材料体系，围绕电子显微镜、扫描探针显微镜、光散射、拉曼光谱、单粒子ICP-MS等技术，制定了多项理化特性测试标准，提高了方法可比性和数据准确性，加深了对纳米测量不确定度的认识。

我国自十一五起就以国家重大科学研究计划、支撑项目、重点研发专项等形式支持了纳米检测方法标准化、标准物质和标准样品研制等工作。在此基础上，我国主导了碳纳米管金属杂质测定、量子点吸收光谱表征等近20项ISO/IEC国际标准，研制40余项标准物质和样品，提升了该领域的水平和国内企业参与国际标准的能力。

本报告分析纳米检测技术标准化的挑战，总结国内外动态，并展望该领域发展趋势。

简介：葛广路，中科院纳米标准与检测重点实验室副主任，全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279）副主任委员，国际标准化组织纳米技术委员会纳米材料工作组（ISO/TC229/WG4）召集人。国家重点研发计划“纳米科技”重点专项项目“纳米产业技术标准的共性关键科学问题研究（2016YFA0200900）”负责人。

1992和1995年于山东大学分获学士和硕士学位, 2001年美国哥伦比亚大学化学博士，随后在UCLA和Caltech从事博士后研究。回国后在发展标准化纳米测量方法、制备纳米材料标准样品、建立纳米尺度构效关系等方面进行了较为深入的探索。作为团队负责人主持纳米技术14项国家标准和6项ISO/IEC国际标准的制定，在Advanced Materials、Small等发表论文50余篇，2013年由科学出版社出版译著《纳米技术标准》，2018年获IEC 1906奖。

时间：2018年10月26日，星期五，9:00-10:00

地点：能源基础楼201会议室